第三章测试1.透射电子显微镜的成像信号来自于透射电子。
A:错 B:对
答案:B
2.
能谱仪通过接收元素的特征X射线进行成分分析，因此可以利用其确定材料中氢元素和锂元素的含量。
A:错 B:对 3.二次电子像的衬度是最典型的形貌衬度。
A:错 B:对 4.材料吸收电子和吸收光子不同，吸收电子时，入射电子停止运动，停留在材料内部。
A:对 B:错 5. 用背散射电子进行形貌分析时，其分辨率远比二次电子像低。
A:对 B:错 6.
用来显示组织和细胞的内部超微结构像的电子为（ ）
A:透射电子
B:二次电子
C:弹性散射电子 D:入射电子
7.合金钢薄膜中极小弥散颗粒（直径远小于500 nm ）的物相鉴定，可以选择（ ）。
A:X射线衍射线分析
B:差热分析
C:透射电镜
D:紫外可见吸收光谱
8.
电子显微镜的分辨率要比光学显微镜的分辨率高，根本原因是（ ）。
A:电子束可以聚焦成小到几纳米的束斑 B: 电子束很容易发生偏转 C:电子束的波长可以很小 D:电子束的穿透力比可见光强 9.下列说法正确的是（）。
A:TEM要求样品非常薄。SEM要求样品具有良好导电性。 B:EDS，可作为透射电镜和扫描电镜的附件使用，分析样品的成分。 C:TEM，接收透射电子，观察样品的形貌、结构、粒径。 D:SEM，可接收二次电子、背散射电子观察形貌、成分。 10.
在观察断口形貌的同时，分析断口上粒状夹杂物的化学成分，选择什么仪器？
A:TEM B:SEM（配有能谱分析） C:SAED D:XRD
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