第一章测试
1.据我们所知,现在测控系统的主要发展趋势应该是( )
A:三者都是
B:微型化、集成化
C:通用化、模块化、智能化
D:优质化、数字化

答案:A
2.影响测控电路精度的主要因素有哪些?( )
A:失调与漂移,主要是温漂
B:输入与输出阻抗的影响
C:线性度与保真度
D:噪声与干扰

答案:ABCD
3.对测控电路的主要要求包括( )
A:高的识别和分析能力
B:精度高、动态性能好
C:可靠性高
D:经济性好

答案:ABCD
4.模拟信号可分为非调制信号与已调制信号。( )
A:错 B:对
答案:B
5.通过传感器对开环控制系统中的干扰量进行测量,据此引入一定的修正,以抵消扰动的影响,即构成闭环控制系统。( )
A:错 B:对
答案:A
6.测控电路的主要发展趋势主要是测控一体化。( )
A:对 B:错
答案:B

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