- （ ）需要试样与参比物之间温度始终保持相同。
- 热分析中对样品的重量没有要求，只要样品尺寸能放进坩埚内，就可以获得良好的测试结果。（ ）
- 热分析中，不同性质的气氛对测试结果没有影响。（ ）
- 在热分析技术中，利用程序温控装置，可以升温、降温，但不能测定材料在恒温过程中发生的变化。（ ）
- 热重分析法的简称为（ ）。
- 在热分析技术中，参比物质的选择是任意的。（ ）
- 差热分析中，试样对曲线会产生影响，影响因素有（ ）。
- 热分析技术中，试样用量越多，热效应大，内部传热慢，温度梯度大，导致峰形扩大，峰顶温度滞后，容易使相邻峰重叠，降低分辨率。（ ）
- 差热分析中，若试样没有热效应时，记录仪所记录的ΔT曲线，为水平直线，称为（ ）。
- 差热分析法的简称为（ ）。
- 电子探针和X射线衍射仪一样，都可以直接确定材料中所包含的物相。（ ）
- 在电子探针中，测定X射线特征波长的谱仪为波长分散谱仪，简写为EDS。（ ）
- 电子探针只能对材料进行微区成分分析，不能同步观察材料微观形貌。（ ）
- 利用电子探针对材料微区成分进行面分析，包含几种元素就显示几种元素的分布图像。（ ）
- 电子探针的主要功能是进行微区成分分析。（ ）
- 在电子探针面分析中，根据图像上亮点的疏密和分布，可确定该元素在试样中分布情况，亮区代表元素含量（ ）。
- 利用电子探针的波谱仪，一个分光晶体能够覆盖的波长范围有限的，因此一个分光晶体只能检测一定原子序数范围的元素。（ ）
- 利用电子探针，可以对样品的成分进行（ ）。
- 在电子探针中，测定X射线特征能量的谱仪为能量分散谱仪，简写为（ ）。
- 电子探针的能谱仪和波谱仪比较，波谱仪（ ）。
- 二次电子像衬度最亮的表面区域是（ ）。
- 扫描电镜的背散射电子像中，图像上亮区对应区域的原子序数（ ）暗区对应区域的原子序数。
- 扫描电镜的分辨率等于入射电子束直径。（ ）
- 被样品原子核反弹回来的入射电子称为非弹性背散射电子，能量基本上没有损失。（ ）
- 扫描电镜中，无论二次电子呈像还是背散射电子呈像，图像的分辨率不发生改变。（ ）
- 与光镜呈像相比，扫描电镜图像立体感强，形态逼真，这是由于扫描电镜的（ ）比光镜大100-500倍。
- 在扫描电镜观察样品，对样品微观组织形貌敏感的成像信号是（ ）。
- 扫描电镜的二次电子像中，样品表面的深凹槽底部产生较多二次电子，在荧光屏上这些部位的亮度较大。（ ）
- 电子束与固体样品作用时，会产生背散射电子。背反射电子的产额随样品（ ）的增加而增多。
- 电子束与固体样品作用时，产生的信号有（ ）。
- 暗场像中位错线的像为亮线。（ ）
- 根据衍衬运动学原理，理想晶体衍射强度随（ ）而变化。
- 衍射衬度在晶体和非晶体中都是存在的。（ ）
- 简单立方结构材料发生衍射时，可以产生衍射的晶面为（ ）。
- 产生电子衍射的充分条件是满足布拉格方程。（ ）
- 制备透射电镜薄膜样品时，离子减薄既适用于导电样品，又适用于不导电样品。（ ）
- 透射电镜的成像操作和电子衍射操作是通过调节（ ）的位置来实现的。
- 孔径半角越小，衍射效应所决定的电磁透镜的分辨率越高。（ ）
- 影响电磁透镜分辨率的因素包括（ ）。
- 每种晶体物质都有自己特定的晶体结构，晶体结构不同则X射线衍射花样也就各不相同。（ ）
- 晶体的X射线衍射方向反映了晶胞的（ ）
- X射线衍射的充分条件是（ ）。
- 当倒易球与反射球相交，交线是一个圆环，环上每一点都满足衍射条件，可以产生衍射。（ ）
- X射线衍射仪中，通常用于测定2θ范围不大的一段衍射图，常用于精确测定衍射峰的积分强度和位置的扫描方式为（ ）。
- 关于X射线衍射仪的测量动作，说法正确的是（ ）。
- 在体心点阵中，当（HKL）晶面的H+K+L为奇数时，产生系统消光。（ ）
- 粉末多晶样品中，不同晶面指数的倒易点分布在（ ）半径的倒易球上。
- 倒易矢量的长度与正点阵中同名晶面的晶面间距（ ）
- X射线特征谱的产生机理与（ ）有关。
答案:DSC
答案:错
答案:错
答案:错
答案:TG
答案:错
答案:试样用量###试样的装填###试样结晶度###试样粒度
答案:对
答案:基线
答案:DTA
答案:错
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