湖南科技大学
- X射线产生的原因是外层电子跃迁，因此其能量较高。( )
- 根据特征X射线的产生机理和命名规则，可知λKβ＜λKα。( )
- 二次电子产生于样品表层5~10nm的深度范围，对样品的表面形貌十分敏感。（ ）
- 扫描电子显微镜中背散射电子像的分辨率最高。（ ）
- X射线衍射分析中，只要满足布拉格方程就能够产生衍射。( )
- 单晶电子衍射花样的标定中，尝试-校核法，衍射斑点指数的标定具有唯一性。（ ）
- 对于具有简单立方结构的晶体而言，干涉指数代表的晶面一定没有原子存在。( )
- 一束X射线照射一个原子列(一维晶体)，只有镜面反射方向上才有可能产生衍射。（ ）
- X射线衍射仪中阳极靶的加速电压主要用于X射线的加速。( )
- 劳厄使用的衍射方法主要用于多晶体的研究。（ ）
- 扫描电镜二次电子像提供的表面形貌衬度应用极其广泛，主要包括（ ）。
- 背散射电子像主要用于（ ）。
- PDF 卡片能提供哪些方面的信息？( )
- 能谱仪成分分析的缺点是（ ）。
- X射线衍射发生需满足（ ）
- 系统消光具体包括（ ）
- 影响透射电子显微镜分辨率的因素有（ ）
- 以下用于测量多晶体X射线衍射的方法是（ ）。
- X射线衍射定量分析方法包括（ ）
- 透射电子显微镜的成像系统包括（ ）
- 首次发现X射线衍射现象的人物是（ ）
- 在透射电子显微镜，薄晶试样的衬度像的成像机制是（ ）
- 原子荧光光谱与原子发射光谱的共同点（ ）。
- 吸收电子的特点（ ）。
- 以下哪种X射线衍射定量方法无需加入内标物（ ）
- 光谱分析是利用（ ）来确定物质的组成和结构的仪器分析方法。
- 以下哪种X射线衍射定量方法最适用于物相种类固定且经常性的大批量样品分析工作（ ）
- 衍射仪法中进行X射线数据采集时，测角仪半径（ ）
- X射线衍射仪聚焦圆变化规律为（ ）
- 在电子衍衬成像中，用物镜光阑孔套住透射束成像，这种成像方法为（ ）
- X射线照射到材料上发生衍射， X射线本质上是作用于（ ）
- 原子的反常散射会使原子散射因子（ ）
- 电子探针的信号检测系统是（ ）。
- 下列光谱中基于原子内层电子跃迁的是（ ）。
- 在透射电子显微镜的衬度像中，非晶试样的衬度来源于（ ）
- X射线多晶衍射实验中，不同晶面族的衍射线通常分布在不同的圆锥面上，原因是（ ）
- 电子衍射成像操作是将（ ）
- 在入射电子束作用下被轰击出来并离开样品表面的样品原子的核外电子称为（ ）。
- 当样品原子的内层电子被入射电子激发或电离时，原子处于能量较高的激发态，此时外层电子将向内层跃迁填补内层空位，多余的能量将以何种信号释放出来（ ）。
- 分别采用Cu靶材和Co靶材产生的特征X射线采集物质的衍射图谱（ ）
- X射线衍射仪光路上的滤波片用途是（ ）
- X射线吸收限产生的原因是（ ）
- 在透射电镜试样的制备中，对于导电试样的最终减薄，一般采用（ ）方法。
- 可以提高透射电子显微镜衬度的光阑是（ ）
- 扫描电子显微镜的电子光学系统包括（ ）。
A:对 B:错
答案:B:错
A:错 B:对
答案:对
A:错 B:对
答案:B:对
A:错 B:对
答案:A:错
A:错 B:对
答案:B:对
A:错 B:对
答案:错
A:对 B:错
答案:B:错
A:错 B:对
答案:错
A:对 B:错
答案:B:错
A:对 B:错
A:断口分析
B:粉末形貌分析
C:金相分析
D:磨损及腐蚀分析
A:显示相的形状、尺寸及其分布
B:定性分析材料的成分分布
C:材料极表层的成分定性和定量分析
D:断口分析
A:可靠性评价
B:衍射角度和强度
C:实验条件
D:结晶学数据
A:能谱仪的元素分析速度快
B:能谱仪的分辨率比波谱仪低
C:能谱仪对样品表面有特殊要求
D:能谱仪的Si(Li)晶体必须在低温下使用
A:反射定律
B:结构因子等于零
C:衍射几何条件
D:结构因子不为零
A:晶胞消光
B:结构消光
C:反射消光
D:点阵消光
A:电子束的强度 B:像差 C:电磁透镜的磁场强度
D:入射电子波的波长
A:衍射仪法
B:德拜(照相)法。
C:转晶法
D:劳厄法
A:任意内标法
B:K值法
C:直接法
D:内标曲线法
A:物镜 B:投影镜
C:荧光屏 D:中间镜
A:伦琴
B:德拜
C:劳厄
D:爱因斯坦
A:吸收衬度
B:衍射衬度 C:质厚衬度 D:散射衬度
A:气体物质外层电子跃迁产生的发射光谱。
B:电、热能使气态原子外层电子跃迁产生的发射光谱。
C:辐射使气态原子外层电子跃迁产生的发射光谱。
D:气态原子外层电子跃迁产生的发射光谱。
A:产额对样品表面形貌敏感
B:产额随样品原子序数增大而增大
C:产额随样品原子序数增大而减小
D:产额与样品原子序数无关
A:特征谱线法
B:任意内标法
C:K值法
D:内标曲线法
A:光的粒子性
B:光与物质的相互作用
C:光的波动性
D:光的折射、反射、干涉及衍射
A:无法测定 B:内标曲线法
C:任意内标法
D:间接法
A:变大
B:变小
C:不变
D:随机变化
A:不变
B:随衍射角度增大而减小
C:随机变化 D:随衍射角度增大而增大
A:暗场像
B:明场像
C:中心暗场像
D:弱束暗场像
A:分子
B:晶体
C:原子
D:电子
A:都有可能
B:变小
C:不变
D:变大
A:扫描电子显微镜
B:透射电子显微镜
C:俄歇电子能谱仪
D:X射线谱仪
A:原子吸收光谱
B:原子发射光谱
C:X射线荧光光谱
D:原子荧光光谱
A:衍射程度 B:振幅衬度
C:相位衬度 D:质厚衬度
A:X射线波长不同
B:晶面间距相等
C:X射线强度高 D:晶面间距不等
A:中间镜的物平面与物镜的像平面重合 B:中间镜的物平面与物镜的背焦面重合 C:关闭物镜。
D:关闭中间镜
A:俄歇电子
B:二次电子
C:背散射电子
D:透射电子
A:特征X射线
B:二次电子
C:透射电子
D:红外线
A:二者完全相同
B:二者衍射角度相同
C:二者衍射角度存在差异
D:二者强度相同
A:增强X射线强度
B:去除Kβ线
C:去除Kα线
D:去除噪声
A:光电效应
B:康普顿散射
C:弹性散射
D:汤姆逊散射
A:离子减薄 B:化学减薄 C:机械减薄
D:电解双喷减薄
A:其他光阑
B:物镜光阑
C:聚光镜光阑
D:选区光阑
A:电子枪、电磁透镜、扫描线圈和样品室
B:电子枪和电磁透镜
C:电子枪和扫描线圈
D:电子枪、电磁透镜和扫描线圈
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