第四章单元测试
在一些复杂系统中，包含了正反馈内回路，有时为了分析内回路的特性，则有必要绘制相应的根轨迹，其相角条件为2kπ，具有这类相角条件的相轨迹称为零度根轨迹。
根轨迹是开环系统某一参数从零变化到无穷时，闭环系统特征方程的根在平面上变化的轨迹。
根轨迹与虚轴的交点是:当有纯虚根s=jw，此时K*使系统处于（ ）状态。
根轨迹的分支数等于开环传递函数的极点数。
确定根轨迹上某一点的K*值时，需要使用相角条件，该说法是（ ）的。
A:对 B:错
答案:对
A:错 B:对
A:临界稳定
B:稳定
C:不稳定
A:错 B:对
A:错误 B:正确
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