第九章测试
1. 芯片测试完成时,合格的芯片用墨水标出。( )
A:对 B:错
答案:B
2. 芯片成品率等于合格芯片数占总芯片数的百分比。( )
A:错 B:对 3. 半导体制造工艺中不同硅片之间测试数据差别过大是可以接受的。( )
A:对 B:错 4. 泊松模型是假设缺陷密度为均匀的,且硅片之间完全相同,仅适用于小直径硅片。( )
A:对 B:错 5. Seed模型:假定硅片之间存在不同缺陷变化。适用于VLSI和ULSI技术。( )
A:对 B:错

温馨提示支付 ¥3.00 元后可查看付费内容,请先翻页预览!
点赞(65) dxwkbang
返回
顶部