1. 压汞过程中,随着外界压力的增加,汞进入更小的孔。

  2. 答案:对
  3. 压汞试验注意事项

  4. 答案:保持室内温度低于25℃且处于良好的通风状态###出现汞渗漏应立即清理并洒硫磺覆盖###废汞及被汞污染的样品应用水密封###操作时要穿工作服并配戴口罩及乳胶手套
  5. 贯通孔和和墨水瓶效应的连通孔,可以通过第一次进汞曲线和第一次退汞曲线得到。第二次进汞时,有效孔径的大小分布以及孔结构其它参数可获得。

  6. 答案:对
  7. 综合考虑实验结果可靠性和成本,压汞试验建议样品数量取为 ()个

  8. 答案:3
  9. 低压系统主要用来注汞和测量()的结构。

  10. 答案:大孔
  11. 压力通过液压油传递给汞,升压方式有连续扫描加压和步进扫描加压两种方式

  12. 答案:对
  13. 中值孔径指的是在孔隙网络中数量最多的孔的孔径,也就是在水泥石或固体材料中出现几率最大的孔隙。

  14. 答案:错
  15. 使用压汞仪测定水泥基材料的孔隙结构,需要建立试验数据与孔结构之间的相关关系,因而首先要对水泥基材料的孔隙系统进行必要的假设——孔结构柱状毛细管系统假定,即认为材料中的孔隙是相互连通的具有一定半径的圆柱状孔隙。

  16. 答案:对
  17. 总孔隙率高的混凝土,渗透性一定高。

  18. 答案:错
  19. 压汞和气体吸附法所测定的孔是开口孔,闭口孔因流体不能渗入,不在测试范围内。

  20. 答案:对
  21. 自旋偶合不影响化学位移,但会使吸收峰发生裂分,使谱线增多。

  22. 答案:对
  23. 核自旋磁场与外磁场相互作用产生进动称为简谐振动。
  24. 所有的原子核均能产生核磁共振
  25. 核磁共振波谱是物质与电磁波相互作用而产生的,属于吸收光谱(波谱)范畴。
  26. 拉曼活性取决于振动中极化度是否变化,只有极化度有变化的振动才是拉曼活性的。
  27. 拉曼位移的大小与入射光的频率无关,只与分子的能级结构有关。
  28. 斯托克斯线或反斯托克斯线与入射光频率之差为化学位移。
  29. 当弱的倍频峰位于某强的基频峰附近时,它们的吸收峰强度常常随之增加,或发生谱峰分裂。这种振动耦合称为费米共振。
  30. 红外光谱的强度与分子振动时偶极矩变化的平方成正比。
  31. O2能产生红外吸收。
  32. 红外光谱与物质结构有关,不同分子吸收红外线选择性不同,故可用红外光谱法检验基团,鉴定化合物及定量测定。
  33. 物质吸收电磁辐射产生红外光谱应满足两个条件:一是辐射光子的能量与振动跃迁所需能量相等;二是辐射与物质之间有偶合作用。
  34. 远红外区:用来研究O-H、N-H及C-H键的倍频吸收。
  35. 红外光谱目前多数用在鉴别样品作定性分析,定量分析不仅需要标样,同时也难精确,更主要的是,由于大多数带的位置集中于指纹区使得谱带重叠现象频繁,解叠困难。
  36. 线膨胀系数 α 为温度升高 1℃时,沿试样某一方向上的相对伸长(或收缩)量为△t。
  37. 热机械分析法:在程序控制温度下测量物质的力学性质随温度(或时间)变化的关系。
  38. 热重分析时气相产物的逸出必然要通过试样与外界空间的交界面,深而大的坩埚或者试样充填过于紧密都会妨碍气相产物的外逸,因此反应受气体扩散速度的制约,结果使热重曲线向低温侧偏移。
  39. 热重曲线的基线漂移是指试样没有变化而记录曲线却指示出有质量变化的现象,它造成试样失重或增重的假象。
  40. 微商热重分析又称导数热重分析(Derivative thermogravimetry,简称DTG),它是记录热重曲线对温度或时间的一阶导数的一种技术。
  41. 是在程序温度(升/降/恒温及其组合)过程中,由热天平连续测量样品重量的变化并将数据传递到计算机中对时间/温度进行作图,即得到热重曲线。
  42. 根据测量方法不同,DTA分为:功率补偿型差示扫描量热法和热流型差示扫描量热法。
  43. 差热分析原理:将温差热电偶的一个热端插在被测试样中,另一个热端插在参比物中,试样和参比物同时升温,测定升温过程中两者温度差,得到温度差随温度变化关系曲线。
  44. 热电效应:两种不同材料的金属丝组成回路,结点处温度T和T0不相同时,可把热能转换成电能。
  45. 热分析的几大支柱()。
  46. 扫描隧道显微镜的横向分辨率可达
  47. 电子探针显微分析对样品的损伤程度为()
  48. 透射电子显微镜配置选区电子衍射装置,使得薄膜样品的结构分析与形貌观察有机结合,是X射线衍射无法比拟的优点。
  49. 明场像是质厚衬度,暗场像是衍衬衬度。
  50. 透射电镜的分辨率既受衍射效应影响,也受透镜的像差影响。
  51. 透射电镜的主要性能指标有分辨本领、放大倍数和加速电压 。
  52. 当入射电子束作光栅扫描时,若电子束在样品表面扫描的幅度为As,相应地在荧光屏上阴极射线同步扫描的幅度为Ac,扫描电子显微镜的放大倍数为Ac 和As 的比值
  53. 扫描电镜的分辨率:是通过测定图像中两个颗粒(或区域)间的最小距离来确定的。
  54. 影响扫描电镜分辨率的因素是()。
  55. 二次电子数量和原子序数有明显的关系,但对微区表面的几何形状十分敏感。
  56. 可见光的波长在390-760 nm之间,最佳情况下,光学玻璃透镜分辨本领的理论极限可达200 nm。
  57. 目镜是显微镜最重要的光学元件,显微镜的分辨能力及成像质量主要取决于其性能。
  58. 晶体在正交偏光镜下呈现黑暗的现象,称为消光现象。
  59. 显微镜总放大倍数=目镜放大倍数×物镜放大倍数
  60. 对于同一放大倍数的物镜,其数值孔径越小,分辨率越高
  61. 光率体是表示光波在晶体中传播时,光波振动方向与相应折射率值之间关系的一种光学立体图形(光性指示体)
  62. 一束自然光穿过各向异性的晶体时分成两束偏振光的现象,称为双折射现象。
  63. 折射率色散:同一介质的折射率因为所用波长的不同而不同;对于同一介质,波长与折射率成反比。
  64. 介质的折射率与光在介质中的传播速度成反比。
  65. 只在平行于光的传播方向的平面内的某一方向振动称为偏振光。
  66. X射线学分为三大分支:X射线透射学、X射线衍射学和X射线光谱学。
  67. 晶体是由原子在三维空间中规则排列而成的。在研究晶体结构时,一般只抽象出其重复规律。这种抽象的图形即为晶面指数。
  68. 俄歇电子产额随原子序数的增加而()。
  69. 布拉格方程式:散射线发生相干衍射,也可以称为晶面反射所必需满足的条件。方程式为2dsinθ= nλ.
  70. 如果(h k l)的晶面间距是d,则(nh nk nl)的晶面间距为
  71. 当一个K层电子被激发而形成空位时,一个M层电子填补K空位,产生的特征X射线称() 射线。
  72. 在入射电子束作用下被轰击出来并离开样品表面的核外电子叫做()
  73. 结构因数:结构因数是表征单细胞对衍射强度的影响,只与原子的种类,在晶胞中的位置有关,而与晶胞大小和形状无关。
  74. 特征X射线谱:当入射波增大到与阳极靶相适应的强度时,会在连续谱上出现一系列强度高、范围窄的线状谱线,这些谱线都是与特定的物质有严格恒定的关系,因此称为特征X射线谱。
  75. X射线在穿透物质后衰减,除主要部分是由于真吸收消耗于光电效应和热效应外,还有一部分是偏离原来的方向,即发生了()。
  76. 近二三十年,材料测试手段呈现出如下的发展趋势:
  77. 成分谱分析用于材料的化学成分分析,包括主要化学成分及少量杂质元素,主要基于其它物理性质或电化学性质与材料的特征关系而建立。成分谱种类很多,有()等
  78. 中子受物质中原子核散射,所以轻重原子对中子的散射能力差别比较小,中子衍射有利于测定轻原子的位置。
  79. 在材料的结构测定中,X 射线衍射分析仍是最主要的方法。
  80. 在化学成分相同的情況下,晶体结构不同或局部点阵常数的改变不会引起材料性能的变化。
  81. 主要的晶体物相分析方法有 X 射线衍射(XRD)、电子衍射(ED)、及中子衍射(ND),其共同的原理是利用电磁波或运动电子束、中子束等与材料内部规则排列的原子作用产生相干散射,获得材料内部原子排列的信息,从而重组出物质的结构。
  82. 材料的组织形貌分析借助各种显微技术探索材料的微观结构。主要包括()等。
  83. 材料的组织形貌是指不同层次材料的相分布、形状、大小、数量等各种晶粒的组合特征。可分为表面形貌和内部组织形貌两种。
  84. 材料的四面体:合成/制备;性质;结构/成分;使用性能
  85. 材料的性能(力学性能和物理性能)是由其内部的微观组织结构决定的。不同材料固然具有不用性能,同种成分的材料具有不同结构时,也具有不同的性能。
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