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材料研究方法（二）
- 改变励磁电流可以改变电磁透镜的（ ）
- 面心立方晶体的衍射图像中，能够观察到的衍射斑（ ）
- (hkl)为面心立方晶体一个晶面，当( )时衍射斑点不出现。
- 红外光谱是（ ）
- 扫描电子显微镜的扫描线圈的作用是（ ）
- 扫描电镜中的电磁透镜（ ）
- 下面哪一种不是透射电镜中的光阑（ ）
- 在透射电镜中被称为衬度光阑的是 ( )
- 扫描电子显微镜中电子束的直径越细，其成像分辨率（ ）
- 扫描电子显微镜用于形貌分析的物理信号是（ ）
- 电镜的欠焦或过焦称为离焦，可通过调整透射电子显微镜的（ ）来实现
- 扫描电镜中，背散射电子像与吸收电子像的衬度（ ）
- 高分辨电子显微像衬度为（ ）
- 当入射电子与核外电子碰撞时，入射电子被散射后其能量将显著减小，是一种（ ）
- 单晶体材料衍射花样特点（ ）
- 下面关于菊池带的描述错误的是（ ）
- 表面污染易造成假象和误差，一般要求表面分析仪器（ ）
以下关于离子减薄说法不正确的是( )
- 根据质厚衬度原理，下面那种情况观察的区域最亮（ ）
- 体心立方的倒易点阵为（ ）点阵。
- 薄片状晶体的倒易点形状为（ ）
- 高分辨试样的厚度与一般透射电镜试样相比（ ）
- 一般情况下，高能电子衍射用的波长远比X射线衍射用的波长（ ）
- 扫描电子显微镜中电磁透镜作用是（ ）
- 多晶体材料衍射花样特点（ ）
- 电子背散射衍射主要用于分析材料的（ ）
- 背散射电子可以进行定性（ ）分析。
- 衍衬运动理论的三个基本假设（ ）
- 以下哪些属于透射电子显微镜的成像系统（ ）
- 以下哪些是EBSD物相鉴定相比X射线衍射物相鉴定的优势？（ ）
- 二次电子是在入射电子束作用下，被轰击出来并离开样品表面的样品核外电子。（ ）
- 电子显微分析中，电子的波长是由磁透镜的强弱决定的。（ ）
- 保持像清晰，透镜像平面允许的轴向偏差称为焦长。（ ）
- 当孔径半角与色差系数一定时，电子束能量变化率越大，色差就越小。（ ）
- 透镜物平面允许的轴向偏差称为焦长。（ ）
- 菊池线是样品厚区产生非弹性散射的结果，它与晶体的取向无关。（ ）
- X射线光电子能谱可以对元素周期表上的所有元素进行定性和定量分析。（ ）
- 根据电磁透镜焦长的计算公式，当放大倍率和分辨率一定时，孔径半角α越小，电磁透镜的焦长越大。（ ）
- 因为高阶劳厄花样是由高阶斑点和零层斑点组成的，所以高阶劳厄花样可以给出晶体更多的信息。（ ）
- 透射电子显微镜操作的过程中，将中间镜的物平面和物镜的像平面重合，就是衍射操作。（ ）
A:焦距，正焦距变动 B:焦距，负焦距变动 C:焦距，由正变负 D:焦距，由负变正
答案:焦距,仅在正焦距中变动
A:(110) B:(113) C:(211) D:(102)
答案:(113)
A:h、k、l奇偶同性 B:h+k+l为奇数 C:h+k+l为偶数 D:h、k、l中有奇数也有偶数
AI参考:选项C:h+k+l为偶数时，衍射斑点不出现。面心立方晶体的一个晶面在满足某些特定条件下，会出现衍射斑点。其中一个条件是，该晶面的h、k、l值必须满足特定的奇偶性要求。当h、k、l中某一项或两项为奇数，另一项为偶数时，会出现衍射斑点；而当h、k、l均为奇数或均为偶数时，衍射斑点则不会出现。因此，选项C“h+k+l为偶数”是正确的。'
A:原子散射光谱 B:原子吸收光谱 C:分子散射光谱 D:分子吸收光谱
AI参考:正确选项是【D:分子吸收光谱】。红外光谱是分子吸收光谱，主要是由于分子振动频率改变而产生的。红外光谱仪可以将分子中的振动频率转化为电信号，从而可以分析分子的结构和组成。因此，红外光谱是分子吸收光谱。'
A:使电子束发生衍射，并在样品表面实现光栅扫描和角光栅扫描 B:使电子束发生发散，并在样品表面实现光栅扫描和角光栅扫描 C:使电子束发生聚焦，并在样品表面实现光栅扫描和角光栅扫描 D:使电子束发生偏转，并在样品表面实现光栅扫描和角光栅扫描
答案:使电子束发生偏转,并在样品表面实现光栅扫描和角光栅扫描
A:均是成像用的，能将电子束斑聚焦缩小 B:均是成像用的，将电子束斑放大 C:均不是成像用的，只是将电子束斑聚焦缩小 D:部分是成像用的，能将电子束斑放大
答案:均不是成像用的,只是将电子束斑聚焦缩小
A:投影镜光阑 B:聚光镜光阑 C:选区光阑 D:物镜光阑
答案:投影镜光阑
A:选取光阑 B:聚光镜光阑 C:物镜光阑 D:投影镜光阑
A:波动较大 B:不变 C:越高 D:越低
AI参考:正确选项是【C：越高】。扫描电子显微镜的成像分辨率与电子束的直径有关，电子束的直径越细，成像分辨率越高。因此，答案为C。'
A:特征X射线 B:反冲电子 C:俄歇电子 D:二次电子、背散射电子
A:励磁电流 B:电压稳定性 C:加速电压 D:电流稳定性
A:互补 B:没有关系 C:相同 D:可能相同也可能不同
AI参考:答案：D扫描电镜中，背散射电子像与吸收电子像的衬度可能相同也可能不同。当试样表面不平整时，背散射电子像与吸收电子像的衬度可能相同；当试样表面光滑时，背散射电子像与吸收电子像的衬度可能不同。因此，本题的正确选项为“可能相同也可能不同”。'
A:衍射衬度 B:质厚衬度 C:相位衬度 D:应力场衬度
A:非相干散射 B:相干散射 C:弹性散射 D:非弹性散射
A:衍射斑点 B:漫散中心斑点 C:半径不同衍射圆环 D:几个同心晕圆
AI参考:正确选项是C：单晶体材料衍射花样特点为半径不同衍射圆环。单晶体材料在衍射时，会形成一系列同心圆环，这些圆环代表着晶体中原子的相对位置。每个圆环的半径代表着对应晶面间距的大小，而圆环的密度则代表着该晶面在样品中的取向频率。因此，选项C“半径不同衍射圆环”是单晶体材料衍射花样特点的正确描述。'
A:菊池带为与衍射晶面平行的亮暗平行衍射线 B:菊池带的宽度与衍射晶面的面间距有关 C:菊池带之间的夹角即为所对应晶面的夹角 D:菊池带中心线实际上即为反射晶面的投影
A:具有低真空度 B:不需要真空 C:具有高真空度 D:在一定气氛中
A:可用于非金属材料的样品制备 B:成功率高 C:效率高，节省时间 D:可用于非均匀金属的样品制备
AI参考:D项错误：离子减薄主要用于金属和非金属材料的薄膜制备，对于不均匀金属材料的样品制备不太适用。综上，此题答案为D选项。'
A:质量小、厚区 B:质量大、厚区 C:质量大、薄区 D:质量小、薄区
AI参考:正确答案是【B:质量大、厚区】。根据质厚衬度原理，质厚衬度是指物体厚度对物体质量的影响，物体厚度越大，其质量越明显，因此观察到的区域越亮。因此，选项B中的质量大、厚区符合质厚衬度原理，是最亮的观察区域。选项A中的质量小、厚区与质厚衬度原理相反，应该为最暗的观察区域；选项C中的质量大、薄区和选项D中的质量小、薄区都与质厚衬度原理不符，不是最亮的观察区域。'
A:简单立方 B:体心斜方 C:简单六方 D:面心立方
A:一定尺寸的杆 B:一定半径的球 C:尺寸很小的点 D:圆形薄片
A:无特殊要求 B:更厚 C:更薄 D:一样厚
A:不确定 B:短 C:一样 D:长
A:放大成像 B:衍射成像 C:投影放大 D:会聚电子束
A:衍射斑点 B:漫散中心斑点 C:半径不同衍射圆环 D:几个同心晕圆
A:化学成分 B:晶体结构 C:取向差 D:晶体取向
A:形貌 B:成分 C:织构 D:组织结构
AI参考:正确选项为：B、成分；D、组织结构。背散射电子成像技术可以用于成分分析和组织结构分析。在成分分析中，背散射电子图像可以提供元素的原子序数信息，从而推断出成分；在组织结构分析中，可以根据背散射电子图像的晶格条纹等信息来判断组织结构。而形貌分析主要是通过二次电子图像来实现的，织构分析通常通过能量色散谱图像来进行分析。'
A:忽略多次散射 B:忽略动力学效应 C:忽略热力学效应 D:忽略吸收效应
A:聚光镜 B:中间镜 C:投影镜 D:物镜
A:获得物相的空间分布状态和相对含量 B:可以检测含量低的物相 C:物相鉴定自动化程度高 D:仅可以获得宏观物相的定性或定量分析
A:对 B:错
A:对 B:错
A:对 B:错
A:错 B:对
AI参考:答案是B：对。 当孔径半角与色差系数一定时，电子束能量变化率越大，色差就越小。因此，该判断题是正确的。这意味着当电子束能量变化率增加时，光强度的变化也会增加，从而导致色差减小。这与孔径半角和色差系数的关系无关。"
A:错 B:对
A:错 B:对
AI参考:答案：B:对。 菊池线是样品厚区产生非弹性散射的结果，它与晶体的取向无关。这句话是正确的。菊池线是样品中某些晶面在衍射方向上受到电子束照射后产生的散射波干涉形成的，其强度与晶体的取向无关。因此，答案为B，即正确。"
A:错 B:对
A:错 B:对
AI参考:正确答案是B：对。 电磁透镜焦长的计算公式为L=h/β，其中h为照明光线的高度，β为照明光线的半角。当放大倍率和分辨率一定时，孔径半角α越小，照明光线的高度h越大，电磁透镜的焦长L也越大。因此，答案为B。"
A:对 B:错
A:对 B:错
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