第四章单元测试
- 电子探针是通过样品被电子束轰击后产生的（）来测定其成分的。（ ）。
既能对试样表层形貌进行分析，又能对试样表层各种元素组成进行分析的表层分析仪器是（ ）。
- 某半导体材料表面经掺杂处理后，要分析掺杂元素在表面的分布及深度剖析，可以选择方法（ ）。
- 当X射线将某物质原子的K层电子打出去后，L层电子回迁K层，多余能量将另一个L层电子打出核外，这整个过程将产生（ ）。
- M层电子回迁到K层后，多余的能量放出的特征X射线称 （ ）。
俄歇电子能谱不能分析固体表面的H和He。（ ）
俄歇电子能谱适合于分析所有固体样品的表面化学成分。。（ ）
X射线光电子能谱可用于固体表面元素的定性、定量和化学状态分析。（ ）
X射线光电子的动能只与样品元素组成有关，不随入射光子的能量而改变，故入射束不需单色。（ ）
产生特征X射线的前提是原子内层电子被打出核外，原子处于激发状态。（ ）
A:x射线 B:阴极射线 C:一般射线 D:γ射线
答案:x射线
A:电子探针 B:扫描电子显微镜 C:都可以 D:俄歇电子能谱仪
A:透射电镜（TEM）； B:扫描电镜（SEM）； C:紫外光电子能谱（UPS）； D:X射线光电子能谱（XPS）。
A:光电子； B:（A+C） C:二次荧光； D:俄歇电子；
A:Lα。 B:Kγ； C:Kβ； D:Kα；
A:错 B:对
A:对 B:错
A:对 B:错
A:对 B:错
A:对 B:错
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