青岛理工大学
- 布拉格方程只涉及X射线衍射方向，不能反映衍射强度。( )
- 电子对X射线散射分为两种情况， 一种是受原子核束缚较紧的电子，X射线作用后，该电子发生振动，向空间辐射与入射波频率相同的电磁波，由于波长、频率相同，会发生相干散射 和 另一种X射线作用在束缚电子上，产生康普顿效应---非相干散射，产生背底。 （ ）
- X射线谱包括的2类信息是：角度、谱线强度。（ ）
- X射线管不同管电压下的连续谱存在的一个最小的频率值，为短波限。（ ）
- 影响多晶体衍射方向的其他因数主要有多重因数P 、 吸收因子A(θ) 和 温度因子e-2M。（ ）
- 晶体沿着一定方向裂开成光滑平面的性质称为解理，裂开的面称为解理面。解理面一般平行于晶面。许多晶体都具有解理，但解理的方向、组数及完善程度不一样，所以解理是鉴定晶体的一个重要依据。（ ）
- 透射电镜由电子光学系统、电源与控制系统及真空系统三部分组成。（ ）
- 在水泥基材料中，平均孔径越小，抗渗性和耐久性越好。故在压汞测试中，单位压力变化时，进汞量变化率较大时对应的孔半径即为平均孔半径。（ ）
- 电子光学系统通常称镜筒，是透射电子显微镜的核心，它的光路原理与透射光学显微镜十分相似。它分为三部分，即照明系统、成像系统和观察记录系统。（ ）
- 费米能级是材料中电子的一个真实能级。( )
- 差示扫描量热分析是在程序控温条件下，测量输入到物质与参比物的功率差与温度的关系的方法，其纵坐标单位为mw或mw/mg 。（ ）
- 像衬度是图像上不同区域间明暗程度的差别。 ( )
- 电子探针分析中，面分析用于观察元素在选定微区内浓度分布。（ ）
- 在红外光谱中，每种红外活性的振动都相应产生多个吸收峰，所以情况十分复杂。（ ）
- TG是在控制温度变化情况下，以温度（或时间）为横坐标，以样品与参比物间温差为零所需供给的{热量}为纵坐标所得的扫描曲线。( )
- Cr为立方晶系，ABC晶面在X、Y、Z坐标轴的截距分别为1/2,1,1，其晶面指数为（211）。（ ）
- 当X射线的管压恒定，增加管流，连续X射线谱的相对强度一致增高，但最大、最小波长数值大小不变（ ）
- 电子探针分析中，点分析用于选定点的全谱定性分析或定量分析，以及对其中所含元素进行定量分析。（ ）
- X射线与物质的作用是通过X射线光子与物质的质子相互碰撞而实现的。（ ）
- 功率补偿型DSC，无论试样吸热或放热都要处于动态零位平衡状态，使ΔT=0，这是DSC 和DTA 技术最本质的区别。当试样吸热时，补偿系统流入参比物一侧的电流增大；当试样放热时，补偿系统流入试样一侧的加热丝电流增大，从而使两者的热量平衡，温差消失。（ ）
- 为了确保透射电镜的分辨本领，物镜的孔径半角必须很小，即采用小孔径角成像。（ ）
- TG热失重曲线的标注常常需要参照DTG曲线，DTG曲线上一个谷代表一个失重阶段，而拐点温度显示的是失重最快的温度。（ ）
- 光电效应中出射光电子的能量仅与入射光子的能量及原子轨道结合能有关，当固定激发源能量时，其光电子的能量仅与元素的种类和所电离激发的原子轨道有关。因此，我们可以根据光电子的结合能定性分析物质的元素种类。（ ）
- 随着外加磁场强度增加，则发生核的能级跃迁时需要的能量也相应增大。（ ）
- 从阴极发出的电子经高压加速到达阳极靶材时，由于单位时间内到达的电子数目极大，而且达到靶材的时间和条件各不相同，并且大多数电子要经过多次碰撞，能量逐步损失掉，因而出现连续变化的波长谱，称为特征X射线谱。 （ ）
- X射线粉末衍射可以对混合物进行物相分析。（ ）
- 若高能态核不能通过有效途径释放能量回到低能态,低能态的核数越来越少，一定时间后，N(-1/2) =N(+1/2)，这时不再吸收，核磁共振信号消失，这种现象为饱和。（ ）
- 多孔材料中孔径最大的孔，叫临界孔径。（ ）
- 由于试样本身对X射线的吸收，使衍射强度的实测值与计算值不符，因此需用吸收因数对强度进行修正。（ ）
- 利用原子序数造成的衬度变化可以对各种金属和合金进行定性的成分分析。重元素区域：图像上是暗区；轻元素区域：图像为亮区。（ ）
- 二次电子信号：主要用于分析样品的表面形貌。因它只能从样品表面层5～10nm深度范围内被入射电子束激发出来。（ ）
- 进行薄膜材料的形貌分析和表面原子结构分布分析时，扫描隧道显微镜可以用于非导体表面形貌分析，扫描隧道显微镜的工作模式包含恒高模式、恒力模式。（ ）
- 与物质作用后会产生X射线的散射弹性散射和非弹性散射，X射线的吸收，光电效应与荧光辐射等现象。（ ）
- 只有偶极矩发生改变的分子振动才能产生红外吸收。( )
- 透射电镜的样品制备方法有支持膜法、一级复型、二级复型等方法。（ ）
- 当X射线发生装置是Cu靶，滤波片应选Mo靶。( )
- 德拜相机直径一般为( )。
- 电子束入射固体样品表面会激发出背散射电子，二次电子，( )。
- 在空间点阵中可以作出相互平行且间距相等的一组平面，使所有的节点均位于这组平面上，各平面的节点分布情况完全相同，这样的节点平面称为（ ）。
- 高效液相色谱不适合下列哪类物质的分析（ ）
- 不同的晶面族的衍射角2θ不同；衍射线所在圆锥的半顶角也就不同，各晶面族衍射线构成一系列以入射线为轴同顶点（ ）。
- 下面哪种仪器可用于材料的表面元素分析 （ ）
- 在热分析中，DSC曲线与DTA曲线形状相似，当物体吸热时，有（ ）
- 扫描电子显微镜主要利用下面哪种原理进行微观成像（ ）
- X-CT可以较好的观测到钢筋焊接缺陷、混凝土中的气孔等，其原理是（ ）
- 原子力显微镜作为一种高分辨率显微系统，其对样品的要求是（ ）
- 根据量子力学计算，L壳层的能级实际上是由（ ）个子能级构成,M壳层的能级由 5 个能级构成,N层由 7 个子能级构成。
- 某物质能吸收红外光波, 产生红外吸收谱图, 其分子结构是（ ）
- 隧道扫描显微镜主要利用下面哪种原理进行微观成像（ ）
- 键长的改变比键角改变需要更大的能量，因此( )。
- X射线衍射中，只有晶面间距大于波长的（ ）的晶面才能产生衍射。
- 利用衍射仪进行定量分析时，一般要求扫描速度应不大于2°/min，下面哪种步长和扫描时间的设置不能满足要求。（ ）
- 异名的正、倒点阵基矢的点乘积为（ ）。
- 已知C－H键(看作双原子分子)的力常数为K＝5 N·cm-1，求C－H键的振动频率为（ ）
- X射线可用于材料的元素分析，它主要利用了X射线的哪种功能（ ）
- 同名的正、 倒点阵基矢的点乘积为（ ）。
- 为了保护人体健康，在进行X射线分析应该对X射线进行防护，下列哪种元素可以作为X射线的屏蔽材料（ ）
- X射线在穿透物质后强度衰减，除大部分是因为吸收作用，还有一部分是（ ）
A:错 B:对
答案:对
A:错 B:对
答案:对
A:错 B:对
答案:对
A:对 B:错
答案:错
A:错 B:对
答案:错
A:对 B:错
答案:对
A:对 B:错
答案:A
A:错 B:对
答案:错
A:错 B:对
答案:对
A:对 B:错
A:对 B:错
A:对 B:错
A:错 B:对
A:错 B:对
A:对 B:错
A:错 B:对
A:错 B:对
A:对 B:错
A:对 B:错
A:错 B:对
A:对 B:错
A:错 B:对
A:对 B:错
A:错 B:对
A:对 B:错
A:对 B:错
A:错 B:对
A:错 B:对
A:对 B:错
A:对 B:错
A:对 B:错
A:对 B:错
A:对 B:错
A:错 B:对
A:错 B:对
A:错 B:对
A:114.6cm B:114.6mm C:57.3mm D:57.3cm
A:吸收电子 B:透射电子 C:俄歇电子 D:特征X射线
A:晶向 B:晶体 C:晶面指数 D:晶面
A:高分子化合物 B:生物大分子 C:气体 D:不稳定天然产物
A:圆弧 B:圆锥 C:圆球 D:圆环
A:X射线荧光光谱仪 B:扫描电镜 C:差热分析仪 D:X射线光电子能谱仪
A:DSC曲线和DTA曲线均为下凹峰 B:DSC曲线和DTA曲线均为上凸峰 C:DSC曲线为上凸峰， DTA曲线为下凹峰 D:DSC曲线为下凹峰， DTA曲线为上凸峰
A:隧道电流成像 B:透射电子成像 C:二次电子成像 D:原子力成像
A:X射线与不同物质发生作用，产生了不同强度的衍射谱 B:X射线与物质作用，产生不同的折射现象 C:不同密度物质对X射线吸收率不一致 D:不同含水率对X射线透过率不一致
A:样品尺度须大于1cm。 B:样品须为有机或金属样品 C:样品具有高表面光洁度 D:样品具有导电
A:5 B:4 C:3 D:6
A:具有不饱和键 B:具有对称性 C:发生偶极矩的净变化 D:具有共轭体系
A:透射电子成像 B:隧道电流成像 C:二次电子成像 D:原子力成像
A:ν出现在低频区，δ出现在低频区 B:ν出现在低频区，δ出现在高频区 C:ν出现在高频区，δ出现在高频区 D:ν出现在高频区，δ出现在低频区
A:六分之一 B:一半 C:四分之一 D:三分之一
A:Step=0.01°，扫描时间=0.6S B:Step=0.02°，扫描时间=0.8S C:Step=0.02°，扫描时间=0.4S D:Step=0.01°，扫描时间=0.3S
A:正 B:负 C:1 D:0
A:2020 cm-1 B:3030 cm-1 C:4040 cm-1 D:1550 cm-1
A:X射线透射功能 B:X射线被物质吸收效应 C:X射线与物质作用产生荧光效应 D:X射线衍射功能
A:正 B:1 C:负 D:0
A:铂 B:碳 C:铅 D:铁
A:光电效应 B:热效应 C:散射 D:透射
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