第四章 电子成像与微观表征分析：本章主要介绍电子成像与微观表征分析的相关知识4.1电子与物质相互作用:电子束与固体样品作用可以产生背散射电子，二次电子、吸收电子、透射电子、特征X射线和俄歇电子；电子束与固体样品作用后产生的各种信号特征，及其在测试技术中的运用，背散射电子、吸收电子、透射电子可以进行成像和成分分析，二次电子可以成像但不能做成分分析，特征X射线仅可进行成分分析，俄歇电子可进行表面层成分分析。[单选题]二次电子数量和原子序数有明显的关系，但对微区表面的几何形状十分敏感。选项:[错, 对]
4.2扫描电镜的构造:扫描电镜主要有电子光学系统； 信号收集处理、图像显示和记录系统与真空系统这三个基本部分组成。
4.3扫描电镜样品制备与应用实例:扫描电子显微镜的工作原理；分辨率、放大倍数、景深等性能指标及其影响因素；不同性状样品的制备方法；通过扫描电子显微镜，可以获得所测样品材料的形貌特征（一维、二维还是三维）、颗粒尺寸大小、颗粒分布信息、衬度信息等，比如金属材料的断口分析、剖面的特征及损伤的形貌；无机非金属材料的形貌分析；膜材料的表观形貌分析及层厚测量；纳米材料分析等。
4.4透射电镜的构造:透射电镜主要包括照明系统、成像系统及观察记录系统，辅助以真空系统和电气系统。
4.5透射电子显微镜成像原理:衬度的定义及产生原因；质厚衬度成像；衍射衬度成像：双束条件，明暗场成像；位相衬度。
4.6透射电子显微镜样品制备和应用技术:直接样品制备；间接样品制备方法；观察实例。
4.7电子探针显微分析:电子探针的工作原理与结构； X射线波长分散谱仪（波谱仪WDS）；X射线能量分散谱仪（能谱仪EDS）；电子探针仪的分析方法及应用。
4.8扫描隧道电子显微镜:扫描隧道显微镜的结构及其工作原理；扫描隧道显微镜在材料研究中的应用；原子力显微镜的结构及其工作原理；电镜的近期发展趋势情况。
4.1电子与物质相互作用:电子束与固体样品作用可以产生背散射电子，二次电子、吸收电子、透射电子、特征X射线和俄歇电子；电子束与固体样品作用后产生的各种信号特征，及其在测试技术中的运用，背散射电子、吸收电子、透射电子可以进行成像和成分分析，二次电子可以成像但不能做成分分析，特征X射线仅可进行成分分析，俄歇电子可进行表面层成分分析。
4.2扫描电镜的构造:扫描电镜主要有电子光学系统； 信号收集处理、图像显示和记录系统与真空系统这三个基本部分组成。
4.3扫描电镜样品制备与应用实例:扫描电子显微镜的工作原理；分辨率、放大倍数、景深等性能指标及其影响因素；不同性状样品的制备方法；通过扫描电子显微镜，可以获得所测样品材料的形貌特征（一维、二维还是三维）、颗粒尺寸大小、颗粒分布信息、衬度信息等，比如金属材料的断口分析、剖面的特征及损伤的形貌；无机非金属材料的形貌分析；膜材料的表观形貌分析及层厚测量；纳米材料分析等。
4.4透射电镜的构造:透射电镜主要包括照明系统、成像系统及观察记录系统，辅助以真空系统和电气系统。
4.5透射电子显微镜成像原理:衬度的定义及产生原因；质厚衬度成像；衍射衬度成像：双束条件，明暗场成像；位相衬度。
4.6透射电子显微镜样品制备和应用技术:直接样品制备；间接样品制备方法；观察实例。
4.7电子探针显微分析:电子探针的工作原理与结构； X射线波长分散谱仪（波谱仪WDS）；X射线能量分散谱仪（能谱仪EDS）；电子探针仪的分析方法及应用。
4.8扫描隧道电子显微镜:扫描隧道显微镜的结构及其工作原理；扫描隧道显微镜在材料研究中的应用；原子力显微镜的结构及其工作原理；电镜的近期发展趋势情况。
[单选题]影响扫描电镜分辨率的因素是（）。选项:[检测部位的原子序数, 检测信号类型, 电子束的束斑大小, 其它选项都正确]
[单选题]扫描电镜的分辨率：是通过测定图像中两个颗粒(或区域)间的最小距离来确定的。选项:[对, 错]
[单选题]当入射电子束作光栅扫描时，若电子束在样品表面扫描的幅度为As，相应地在荧光屏上阴极射线同步扫描的幅度为Ac，扫描电子显微镜的放大倍数为Ac 和As 的比值选项:[错, 对]
[单选题]透射电镜的主要性能指标有分辨本领、放大倍数和加速电压 。选项:[对, 错]
[单选题]透射电镜的分辨率既受衍射效应影响，也受透镜的像差影响。选项:[错, 对]
[单选题]明场像是质厚衬度，暗场像是衍衬衬度。选项:[对, 错]
[单选题]透射电子显微镜配置选区电子衍射装置，使得薄膜样品的结构分析与形貌观察有机结合，是X射线衍射无法比拟的优点。选项:[错, 对]
[单选题]电子探针显微分析对样品的损伤程度为()选项:[损伤轻, 损伤适中。, 损伤严重, 无损伤]
[单选题]扫描隧道显微镜的横向分辨率可达选项:[0.3~0.5nm, 6-10nm, 1~3nm, 0.1nm]
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