第八章单元测试
  1. 电子器件的失效主要受___因素的影响。


  2. 答案:环境因素、使用条件、制造缺陷、老化过程、电磁干扰等。
  3. 半导体器件的主要失效模式包括断路。( )

  4. A:错 B:对
  5. 限制镁及镁合金的进一步应用的主要原因是合金内部的第二相或杂质引起的电偶腐蚀。( )

  6. A:错 B:对
  7. 电阻器的主要失效模式有( )

  8. A:开路 B:击穿 C:断路 D:短路
  9. 由于生物医用材料应用场景的特殊性,对于生物医用材料区别于其它材料的要求有___和___。

温馨提示支付 ¥3.00 元后可查看付费内容,请先翻页预览!
点赞(3) dxwkbang
返回
顶部