第九章单元测试
- 芯片测试完成时,合格的芯片用墨水标出。( )
- 芯片成品率等于合格芯片数占总芯片数的百分比。( )
- 半导体制造工艺中不同硅片之间测试数据差别过大是可以接受的。( )
- 泊松模型是假设缺陷密度为均匀的,且硅片之间完全相同,仅适用于小直径硅片。( )
- Seed模型:假定硅片之间存在不同缺陷变化。适用于VLSI和ULSI技术。( )
A:错 B:对
答案:错
A:对 B:错
A:错 B:对
A:对 B:错
A:错 B:对
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