第九章单元测试
- 基于边界扫描设计的元器件的所有与外部交换的信息（指令、测试数据和测试结果）都采用（ ）通信方式。
- 获得正常元件输入和输出信号的瞬态值并将它们保存在边界扫描环中两个主从触发器的第一个里面，以便监测和分析被测器件的工作状态，该指令为（ ）。
- 内测试指令是当芯片装配到PCB/MCM上时，通过使用边界扫描寄存器把外部施加的测试矢量移位到芯片内，从而实施片上系统逻辑的测试，执行内测试指令典型的步骤为（ ）。
①扫描模式，从SI端加载测试向量 ②扫描模式，将测试结果移位至SO输出 ③更新模式，将测试向量输入至芯片
④捕捉模式，捕捉芯片的输出值 - 边界扫描测试的基本原理是在靠近器件的每个输入/输出引脚处增加一个边界扫描单元BSC，其具有哪几种工作模式（ ）。
- 边界扫描标准主要应用的范围包括（ ）。
- 边界扫描测试结构主要包括（ ）。
- 关于TAP控制器，表达正确的是（ ）。
- 下列哪些是边界扫描寄存器组必要的寄存器（ ）。
- 下列哪些是边界扫描指令中的强制指令（ ）。
- 利用BICT（BoundaryScan In Circuit Test）测试器件管脚的开短路情况，输入输出如下图所示，则可知（ ）。
A:串行 B:并行
答案:串行
A:采样 B:外测试 C:预载 D:内测试
A:③②①④ B:③②④① C:①③④② D:①④②③
A:扫描移位模式 B:捕捉模式 C:更新模式 D:正常工作模式
A:规范元器件在正常工作条件下对其观察或控制的方法 B:规范集成电路本身的测试方法 C:规范板级或其他系统中集成电路之间连接的测试方法 D:规范集成电路内建自测试的方法
A:边界扫描寄存器组Registers B:TAP 控制器 C:测试访问端口TAP D:可选的测试系统复位信号 TRST* E:指令译码器 Instruction Decoder
A:只允许TCK、TMS和TRST*信号影响，是边界扫描测试核心控制器 B:可以选择使用指令寄存器扫描或数据寄存器扫描，能够控制边界扫描测试的各个状态 C:是能够识别边界扫描通信协议和通过内部信号控制边界扫描硬件的简单有限状态机 D:TAP控制器共有16个状态
A:指令寄存器 B:边界扫描寄存器 C:旁路寄存器 D:器件特性寄存器 E:器件ID寄存器
A:旁路指令 B:外测试指令 C:采样 / 预载指令 D:内建自测试指令 E:内测试指令
A:0管脚存在开路故障 B:6管脚存在短路故障 C:7管脚存在开路故障 D:0管脚存在短路故障
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