第五章单元测试
- 若组合电路中存在不可检测的故障，则说明该电路为（ ）。
- 在自动测试向量生成ATPG算法中，五值逻辑的D表示正常无故障情况下，输出为（ ）。
- 与非门的奇异立方为（ ）。
- 与非门ｂ端sa0故障的初始D立方为（ ）。
- PODEM算法中若需使一个或门的输出为1，则优先确定（ ）的输入端的值。
- 利用FAN算法，若需使一个或非门的输出为１，则进行反向蕴涵时（ ）。
- 功能测试与结构测试的区别为（ ）。
- 非确定性的测试向量生成技术包括（ ）。
- PODEM算法与D算法的区别包括（ ）。
- FAN算法中提出了哪些新的概念（ ）。
A:非冗余电路 B:冗余电路
答案:冗余电路
A:1 B:0
A:
B:
C:
D:
A:abz = 01D’ B:abz = 11D C:abz = 11D’ D:abz = 00D
A:最容易控制 B:最难控制
A:同时设置所有输入为１，然后再进行正向和反向蕴涵 B:逐一设置输入为１，然后再进行正向和反向蕴涵 C:同时设置所有输入为０，然后再进行正向和反向蕴涵 D:逐一设置输入为０，然后再进行正向和反向蕴涵
A:结构测试可以利用算法生成测试向量 B:功能测试需要考虑故障模型 C:功能测试的测试向量多，测试时间长 D:结构测试需要考虑故障模型
A:代数法 B:随机测试向量生成 C:各种测试向量生成算法 D:穷举或伪穷举测试向量生成
A:寻找故障信号到PO端路径最近的通路做驱赶 B:搜索空间只限制为原始输入 C:不需要线确认的过程 D:定义了X-PATH来判断是否还存在D边界
A:多重回溯 B:立即蕴涵 C:主导线 D:惟一敏化
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