第六章单元测试
- 九值逻辑中若G1表示（ ）。
- 对于下图时序电路中的故障SA1，测试向量a为（ ）。
- 时序电路测试的BACK算法是基于（ ）来选择检测故障的原始输出PO。
- 时序电路与组合电路的区别包括（ ）。
- 时序电路的故障测试相比于组合电路更复杂，主要因为（ ）。
- 时序电路的测试向量需包含哪几部分（ ）。
- 单时钟同步电路的特点（ ）。
- 对时序电路进行测试，可采用的方法包括（ ）。
- 组合电路与时序电路之间测试向量的差别（ ）。
- 时序电路测试的BACK算法中传递故障时，优先选择具有“最难”可驱动性的输出。（ ）
A:正常情况为1，故障情况为X B:正常情况为0，故障情况为1 C:正常情况为1，故障情况为0 D:正常情况为0，故障情况为X
答案:正常情况为1，故障情况为X
A:01 B:11 C:00 D:10
A:可控制性分析 B:可测试性分析 C:可观测性分析 D:可驱动性分析
A:时序电路的输出不仅取决于当前输入，还与电路前一时刻的状态有关 B:时序电路含有反馈通道 C:针对时序电路的故障测试需要一序列的测试向量 D:时序电路中触发器的状态不可控不可测
A:时序电路存储器最后状态不可直接观测，只能从原始输出间接推断 B:时序电路内部存储器状态未知 C:时序电路有更多的输出状态 D:时序电路的故障更多
A:激活故障的测试向量 B:使内部存储器初始化的向量 C:将故障效应传递到存储器输出端的组合测试码 D:将故障效应传递到组合逻辑边界的组合测试码
A:每个时钟周期施加一个向量并产生一个输出 B:触发器为理想的存储元件 C:只有一个时钟，所有触发器的状态变化都与所加的时钟信号同步 D:信号经过组合逻辑的传播时间不超过时钟周期
A:时间帧展开方法 B:组合电路测试向量生成的方法 C:扫描设计的DFT方法 D:基于模拟的方法
A:组合电路对一个目标故障只需一个测试向量 B:组合电路测试向量生成算法用五值逻辑 C:时序电路测试向量生成算法用九值逻辑 D:时序电路对一个目标故障需要一个序列的测试向量
A:错 B:对
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