第三章单元测试
- CMOS或非门由两个PMOS管和两个NMOS管构成，其中两个PMOS管连接方式为（ ）。
- PMOS管导通需要栅极电压为（ ）。
- 固定故障、桥接故障属于（ ）故障模型。
- 与非门中输入端的sa0故障与输出的（ ）故障等价。
- 或非门中输出端的（ ）故障支配输入端的sa0故障。
- MOS晶体管固定开路故障的检测需要（ ）。
- 输入端为AB的或非门中，如果B端控制的NMOS管有固定开路故障，则需要的测试向量是（ ）。
- VLSI芯片中的典型缺陷包括（ ）。
- 测试一个6输入单输出的基本逻辑门，若输入向量101010，输出为1，则可以判断该逻辑门为（ ）。
- 典型的故障模型包括（ ）。
A:串联 B:并联
答案:串联
A:低电平 B:高电平
A:寄存器传输级别（RTL）或逻辑级别 B:行为级 C:晶体管级
A:sa0 B:sa1
A:sa1 B:sa0
A:两组测试向量，使输出状态发生变化 B:测量静态电流IDDQ
A:AB分别为 11 01 B:AB分别为 00 01 C:AB分别为 00 10 D:AB分别为 11 10
A:材料缺陷 B:工艺缺陷 C:寿命缺陷 D:封装缺陷
A:非NOR门 B:NAND门 C:非AND门 D:OR门
A:可编程逻辑阵列PLA故障 B:延迟故障 C:单固定故障 D:晶体管开短路故障
温馨提示支付 ￥3.00 元后可查看付费内容,请先翻页预览!
